Патенты автора Ватник Илья Дмитриевич (RU)

Изобретение относится к области микрорезонаторных оптических устройств, к устройствам поверхностной аксиальной нанофотоники (ПАН), в которых оптические микрорезонаторы мод шепчущей галереи и системы таких микрорезонаторов формируются на внешней поверхности оптического волокна, имеющего цилиндрическую форму, и возбуждаются с помощью растянутых микроволокон. Заявлен способ определения силы связи растянутых оптических волокон с цилиндрическим микрорезонатором устройства поверхностной аксиальной нанофотоники, в котором одают сигнал в первое растянутое оптическое волокно, находящееся в оптическом контакте с микрорезонатором, далее сигнал через нерезонансные моды шепчущей галереи микрорезонатора поступает во второе растянутое оптическое волокно, при этом принимающее второе растянутое оптическое волокно находится в оптическом контакте с микрорезонатором своей перетяжкой. Измеряют коэффициент передачи мощности из первого растянутого волокна во второе, по которому определяют коэффициент связи для возбуждающего волокна, при этом первое и второе растянутые волокна имеют подобную форму. Технический результат - быстрое определение связи между растянутым оптическим микроволокном и цилиндрическим микрорезонатором для произвольных точек контакта вдоль микроволокна. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к области применения устройств волоконной оптики, в частности к устройствам поверхностной аксиальной нанофотоники (ПАН), в которых оптические микрорезонаторы мод шепчущей галереи и системы таких микрорезонаторов формируются на внешней поверхности оптического волокна путем контролируемого изменения локального показателя преломления материала волокна. Заявлен способ перестройки устройства поверхностной аксиальной нанофотоники, в котором в сердцевину оптического волокна заводят управляющее излучение, обеспечивающее нагрев волокна, при этом сердцевина волокна выполнена из материала с поглощением, обеспечивающим равномерный нагрев по длине устройства. Технический результат - возможность перестройки резонансов микрорезонатора либо набора таких микрорезонаторов, созданных на поверхности волоконного световода полностью оптическим методом (с помощью излучения), при этом не оказывая влияния на интенсивность нелинейных процессов, происходящих в микрорезонаторе. 7 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к области нанооптических технологий. Способ изготовления устройства поверхностной аксиальной нанофотоники (SNAP) реализуется путем создания заданного профиля эффективного радиуса волокна по его оси последовательным воздействием сфокусированным излучением на определенные участки волокна при его перемещении. При этом воздействие осуществляют при перемещении волокна в непрерывном режиме при температуре волокна ниже температуры трансформации не менее чем на 100 градусов с одновременным непрерывным контролем произведенной модификации эффективного радиуса. Технический результат заключается в обеспечении возможности уменьшения количества производственных и контрольных операций при изготовлении устройства. 7 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к области измерения и контроля качества оптических волноводов. Способ измерения профиля торца оптического волокна возбуждением аксиальных мод шепчущей галереи и расстояния от точки возбуждения до торца состоит в следующем. В качестве источника пробного излучения, в соприкосновение с измеряемым окончанием оптического волокна приводят перетяжку вытянутого оптического волокна. Через это тянутое волокно подают излучение с перестраиваемой длиной волны от внешнего источника, например, полупроводникового или волоконного лазера, которое через затухающие колебания передается в исследуемый оптический волновод и возбуждает в нем АМШГ. Выходной оптический сигнал снимается при помощи того же тянутого волокна либо в отражении (с той же стороны, куда подается возбуждающее излучение), либо в пропускании (с противоположной стороны). Спектральный отклик, полученный таким образом, сильно зависит от условий отражения возбужденной АМШГ от торца исследуемого оптического волокна, причем количество, интенсивность и длины волн резонансов зависят от угла скола оптического волокна и формы торца. Эти зависимости определяют заранее, либо при помощи экспериментальных измерений тестовых волокон с разным углом скола и/или разной формой торца, либо при помощи числового моделирования Другой вариант измерения профиля торца оптического волокна и расстояния от точки возбуждения АМШГ до торца основан на импульсном возбуждении оптических мод шепчущей галереи с аксиальной компонентой (АМШГ) и использований методов временной рефлектометрии для определения расстояния от точки возбуждения до торца исследуемого оптического волокна и анализе формы и интенсивности импульсного сигнала, отраженного торцом волновода и принятого фотодетектором для оценки угла и формы этого торца. Технический результат заключается в высокоточном измерении профиля торца оптического волокна и, наряду с оценкой профиля торца оптического волокна, в измерении коротких длин отрезка волокна от точки возбуждения до его торца. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к методам спектроскопии высокого разрешения и пространственно-временного анализа оптического излучения со сложной структурой и относительно быстрой эволюцией. Оно может быть использовано при проведении научных и прикладных исследований лазерных систем, в том числе распределенных лазерных систем передачи информации, а также частично когерентных и нестабильных лазерных источников, в особенности, с длинными резонаторами и синхронизацией мод. Предложен способ высокоразрешающей пространственно-временной спектроскопии сложного многокомпонентного излучения, включающий запись измерений интенсивности входного сигнала в реальном времени и применение специальных спектральных преобразований с использованием частотно-спектрального анализа полученных спектральных и пространственно-временных данных для визуального или автоматического выявления в излучении повторяющихся структур и их развития во времени. Способ позволяет разделять компоненты сигнала, имеющие одинаковую групповую скорость, идентифицировать устойчивые структуры излучения сложных, и особенно, частично-когерентных систем, в которых несколько таких структур может сосуществовать одновременно и двигаться относительно друг друга с разными групповыми скоростями, а также делать это в присутствии шума с возможностью введения обратной связи на исследуемую систему для коррекции ее параметров. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.

Способ анализа спектрально-временной эволюции излучения включает в себя получение сигнала оптического гетеродина, измерение интенсивности сигнала, получение аналитической формы сигнала при помощи гильбертова дополнения. Далее вычисляют автокорреляционную функцию методом быстрого преобразования Фурье, определяют периодичность основной структуры во входном излучении, регистрируют входной сигнала, синхронизируя с периодом основной структуры излучения. Производят выбор оптимального ядра преобразования коэновского класса для исследуемого сигнала и составляют двумерную спектрально-временную диаграмму. Способ основан на применении оптического гетеродинирования для смещения анализируемого излучения в радиочастотную область. Технический результат заявленного решения - повышение временного разрешения сигнала при исследовании лазерных систем. 4 ил.

 


Наверх