Патенты автора ГАФТ Михаил (IL)

Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа обнаружения элемента в образце. Способ осуществляется с помощью системы спектроскопии возбуждения лазерным пробоем (LIBS), включающей в себя первый лазер, второй лазер, спектрометр и детектор. Способ включает в себя доставку первого импульса от первого лазера на поверхность образца, затем доставку второго импульса от второго лазера на поверхность образца и обнаружение молекулярных эмиссий молекулы, содержащей упомянутый элемент. Обнаружение начинается после времени задержки, следующей за доставкой второго импульса. Время задержки выбирается так, чтобы улучшать обнаружение молекулярных эмиссий по сравнению с атомными эмиссиями атома, содержащего упомянутый элемент. 24 з.п. ф-лы, 15 ил., 1 табл., 9 пр.

 


Наверх