Патенты автора Иешкин Алексей Евгеньевич (RU)
Устройство для ионизации кластерных ионов // 2728513
Изобретение относится к устройству для ионизации кластерных ионов. Устройство включает анод (1), катод (2), керамическое основание (3) и отражатель электронов (4). Анод (1) и катод (2) закреплены на керамическом основании (3). Катод (2) изготовлен из материала с низкой температурой эмиссии. Анод (1) выполнен из полого кругового цилиндра, на радиально противоположных стенках которого по всей высоте вырезаны части поверхностей под углом 30°-90°, которые закрыты металлической сеткой, закрепленной на аноде. Отражатель электронов (4) расположен вокруг катода (2) и анода (1). Отражатель электронов (4) закреплен на керамическом основании соосно с анодом (1). Катод (2) расположен на прямой линии, проходящей из центра оси симметрии через сетку анода (1). Расстояние от центра оси симметрии до катода (2) должно быть больше, чем наружный радиус анода (1). Частные случаи исполнения устройства. Во-первых, отражатель электронов (4) имеет потенциал не менее -600 В относительно катода (2). Во-вторых, катод (2) располагается на прямой, проходящей из центра оси симметрии устройства через середину сетки анода (1) на расстоянии не менее 1,1 внешнего радиуса анода (1). Техническим результатом является снижение количества разрушенных кластерных ионов. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Изобретение относится к области ускорительной техники, в частности к системам подачи газа в сверхзвуковое сопло при формировании пучков ускоренных газовых кластерных ионов. Технический результат - расширение класса рабочих газов, в том числе слабо кластеризуемых, используемых в системах для формирования газовых кластерных ионных пучков. Способ предусматривает формирование газового кластерного ионного пучка в вакуумной камере при подаче рабочего газа под давлением от источника газа в сверхзвуковое сопло ускорителя газовых кластерных ионов, при этом формирование газового кластерного ионного пучка осуществляется путем импульсной подачи газа от источника, при значении давления стагнации, не превышающем 7 атм, и при длительности импульса тока кластерных ионов, на 1-2 порядка превышающей длительность подачи газа от источника. 4 ил., 1 табл.
