Патенты автора ДИ СТЕФАНО Луиджи (IT)
Изобретение относится к вычислительной технике. Технический результат заключается в обеспечении возможности анализа поверхности шины. Такой результат достигается тем, что получают один или более цифровых изображений участка поверхности, имеющего рисунок, который содержит схему, которая повторяется по существу одинаковым образом множество раз, идентифицируют множество первых зон указанных одного или более цифровых изображений, каждая из которых соответствует соответствующей подчасти схемы, идентифицируют соответствующее множество зон, гомологичных каждой первой зоне, при этом соответствующая подчасть схемы по существу идентична соответствующей подчасти схемы в каждой первой зоне, рассчитывают модель соответствующей подчасти схемы, в которой каждому пикселю соответствует среднее значение из значений, поставленных в соответствие пикселям каждой первой зоны и соответствующих гомологичных зон, имеющим одинаковые относительные координаты указанного каждого пикселя, получают модель рисунка посредством использования расчетных моделей подчастей схемы. 2 н. и 25 з.п. ф-лы, 16 ил.
Изобретение относится к автомобильной промышленности. Способ и соответствующее устройство обнаружения дефектов на поверхности шины предусматривает: выполнение шины (200); получение цифрового изображения, содержащего структуру, содержащую части, отображающие линейные элементы рисунка на участке поверхности и отображающие возможные удлиненные дефекты, при этом указанные части структуры имеют соответствующую ориентацию; выполнение модели рисунка на участке поверхности, в которой каждому пикселю поставлены в соответствие первый индекс, характеризующий то, принадлежит ли пиксель части рисунка или нет, и второй индекс, характеризующий, по меньшей мере, локальную ориентацию части рисунка, проходящей через указанный пиксель; вычисление - для каждого пикселя из структуры - третьего индекса, характеризующего ориентацию части структуры, проходящей через указанный пиксель, и установление - для каждого пикселя из структуры, имеющего соответствующий пиксель в модели рисунка, принадлежащий рисунку, - того, принадлежит ли указанный пиксель из структуры предполагаемому дефекту на основе сравнения третьего индекса и второго индекса, поставленного в соответствие соответствующему пикселю в модели рисунка. Технический результат - выполнение контроля шины за меньшее время и со сниженными затратами. 2 н. и 13 з.п. ф-лы, 15 ил.
