Патенты автора Михайленко Александр Владимирович (RU)
Дифракционный способ определения внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии // 2658098
Изобретение относится к неразрушающим способам обнаружения дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии из неметаллических материалов, прозрачных для электромагнитных волн с длинами 10-4 до 10-3 метра, и может быть использовано для автоматического обнаружения скрытых дефектов структуры. Способ включает обнаружение дефектов изготовления материала, таких как трещины, пустоты, полости, поры, соизмеримых по величине с длиной монохромной волны, проходящей через исследуемый материал. При взаимодействии электромагнитной волны с дефектом возникает эффект дифракции. Дифракционная картина проецируется на экран, находящийся за исследуемым объектом и состоящий из болометрических ячеек, чувствительных к терагерцевому излучению. Дифракционная картина считывается с экрана и преобразуется в компьютерное изображение, пригодное для последующего анализа. Техническим результатом изобретения является упрощение процедуры фиксации присутствия дефекта и его безопасность по сравнению с аналогичными методами рентгеновской томографии за счет использования неионизирующего излучения. 3 ил.
