Патенты автора Синельников Михаил Иванович (RU)
Изобретение может быть использовано при сборке и юстировке зеркальных и зеркально-линзовых объективов. Способ включает формирование от когерентного источника сферических опорного и объектного волновых фронтов, получение интерференционной картины в результате взаимодействия отраженных от эталонной и асферической поверхностей опорного и объектного волновых фронтов и определение по ней положения оси асферической поверхности. Дополнительно формируют измерительную базу и компенсатор, преобразующий объектный волновой фронт в асферический, совпадающий с теоретической формой контролируемой асферической поверхности, совмещают оси асферической поверхности и компенсатора путем юстировки асферической поверхности до минимизации осенесимметричных аберраций и определяют взаимное положение осей компенсатора и измерительной базы. Технический результат - увеличение точности определения положения оси асферических оптических элементов, улучшение технологичности сборки, увеличение диапазона габаритов контролируемых асферических элементов и номенклатуры контролируемых оптических элементов. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
