Патенты автора Шамаев Алексей Михайлович (RU)
Изобретение относится к оптической измерительной технике. Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий состоит: из зеркального эллипсоида с отверстием, выполненным под углом 5-20° к его оси, предназначенным для ввода излучения на образец, плоскость которого проходит через нижний фокус эллипсоида; небольшой интегрирующей сферы с пироэлектрическим приемником излучения, чувствительная поверхность которого расположена на поверхности сферы; и экрана, предназначенного для устранения прямого попадания излучения, отраженного от поверхности образца на фотоприемник. В качестве источника излучения, модулятора и зеркала содержит компактный, модулируемый электрическим током малоинерционный инфракрасный излучатель, частота модуляции которого синхронизована с частотой выборки АЦП регистрирующего устройства. Техническим результатом изобретения является линейная зависимость сигнала регистрации пироэлектрического приемника от мощности отраженного от образца излучения, которая не зависит от индикатрисы отражения образца, обеспечивая равенство условий для образцов с зеркальным и диффузным характером отражения. 4 з.п. ф-лы, 6 ил.
