Патенты автора Алеев Рафиль Мухтарович (RU)
Изобретение относится к области приборостроения и может найти применение в сканирующих устройствах ограниченного вращения
Изобретение относится к области приборостроения, измерительной и информационной техники и может быть использовано в системах кругового сканирования или секторного обзора
Изобретение относится к электрическим измерениям и предназначено для выявления дефектной многоэлементной изолирующей конструкции
Изобретение относится к оптико-электронным устройствам и может быть использовано в управлении пространственным положением светового пучка в различных оптико-электронных приборах, например в тепловизорах, при визуализации невидимого человеческому глазу теплового поля