Патенты автора Фролов Д.Н.
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в измерительных микроскопах отраженного света для измерения и фотографирования особо мелких топографических структур в светлом и темном полях при оценке качества изготовления и аттестации в условиях промышленного производства изделия микроэлектроники
Изобретение относится к области оптики и может быть использовано в зрительных трубках, телескопах, биноклях и др
Изобретение относится к микроскопии, к планапохроматическим объективам микроскопа, и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в микроскопах отраженного света для измерения, исследования и фотографирования особо тонких топографических структур в светлом и темном поле, при оценке качества изготовления и аттестации в условиях промышленного производства изделий микроэлектроники
Изобретение относится к области микрооптики и может быть использовано при конструировании ахроматических объективов большого увеличения для комплектации микроскопов проходящего света типа Вилам и Люмам
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в микроскопии проходящего света крупной серии
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в микроскопах проходящего света для визуального наблюдения и фотографирования биологических объектов в обычном свете и в свете их собственной люминесценции
Изобретение относится к области микроскопии, в частности, к объективам микроскопа, и может быть использовано в микроскопах отраженного света для измерения, исследования и фотографирования особо тонких типографских структур в светлом поле в обычном и поляризованном свете для целей микроэлектроники, геологии и металлографии
Изобретение относится к области микрооптики, точнее к светосильным объективам микроскопа, и может быть использовано для комплектации сложных исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Изобретение относится к области медицинской экологии, разделу биология
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в микроскопах отраженного света для измерения, исследования и фотографирования особо тонких топографических структур в светлом и темном поле при оценке качества изготовления и аттестации в условиях промышленного производства изделий микроэлектроники
Изобретение относится к оптике и может быть использовано при конструировании микрообъективов - ахроматов большого увеличения с предельными значениями числовых апертур без применения иммерсионных жидкостей для комплектации специализированных микроскопов типа "Биолам", "Бимам", "Люмам"
Изобретение относится к оптике и может быть использовано при конструировании объективов - ахроматов большого увеличения для комплектации крупносерийных микроскопов типа БИОЛАМ, БИМАМ, ЛЮМАМ
Изобретение относится к области микроскопии, точнее к микрообъективам, служащим для исследования особо тонких микроскопических структур в естественном свете и свете люминесценции
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в исследовательских микроскопах проходящего и отраженного света, к которым предъявляются повышенные требования к качеству изображения
Изобретение относится к оптике, точнее к проектированию объективов микроскопов, предназначенных для получения увеличенного изображения особо тонких микроскопических структур
Изобретение относится к области микроскопии - к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Изобретение относится к области микроскопии, точнее к микрообъективам - системам с дифракционно ограниченным качеством изображения, служащим для исследования особо тонких микроскопических структур в естественном свете и свете люминесценции
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в измерительных микроскопах отраженного света для исследования и измерения особо мелких топографических структур изделий микроэлектроники
Изобретение относится к определению физико-механических характеристик материалов, в частности поверхностных слоев объектов методом склерометрии для оценки трещиностойкости, прочности сцепления покрытия с основой и т.д
Изобретение относится к неразрушающим акустическим методам исследования физико-механических свойств изделий
Изобретение относится к микроскопии, к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Изобретение относится к области оптики и может быть использовано в зрительных трубах, телескопах, биноклях и других оптических приборах
Изобретение относится к оптике и может быть использовано в зрительных трубах, телескопах, биноклях и других оптических приборах