Патенты автора Турухано Никулина (RU)

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения линейных размеров объектов фотоэлектрическими преобразователями на базе дифракционных решеток и может быть использовано в машиностроении, оптико-механической и аэрокосмической промышленностях, наноотрасли. Нанодлиномер голографический содержит корпус, жестко закрепленную в нем измерительную решетку со штрихами на подложке и жестко присоединенной к ее торцу стеклянной направляющей, считывающую головку, состоящую из индикаторной решетки со штрихами на подложке, осветителя, линзы, фотоприемников. Считывающая головка соединена с измерительным стержнем с наконечником, связана с приводом перемещения и выполнена с возможностью перемещения вдоль оси измерительной решетки и вдоль стеклянной направляющей при помощи опор в виде двух узлов с подшипниками, жестко присоединенных к считывающей головке, предназначенных для параллельного перемещения индикаторной решетки относительно измерительной решетки с постоянным зазором между их базовыми поверхностями. Первый узел опор обеспечивает перемещение считывающей головки вдоль измерительной решетки, а второй узел опор обеспечивает перемещение считывающей головки вдоль стеклянной направляющей. Технический результат - расширение диапазона измерения линейных размеров объекта до 500 мм с сохранением наноточности измерений во всем измеряемом диапазоне, что расширяет область применения устройства. 4 ил.

Изобретение может быть использовано в качестве измерительной системы для неинвазивной экспресс-диагностики многокомпонентных биологических сред для определения вирусов, бактерий и других микроорганизмов. Микроскоп содержит источник излучения, фокусирующий объектив, диафрагму и кювету для размещения исследуемого объекта, расположенные вдоль оптической оси, матрицу фотоприемников, электронно-вычислительную систему, включающую блок обработки, программное обеспечение и ПК. Дополнительно до кюветы введен фильтр для сглаживания Гауссового распределения пучка излучения и получения равномерного освещения по сечению пучка. Кювета имеет прозрачное плоское входное окно. Выходное окно кюветы имеет форму полусферы с радиусом, равным расстоянию от входного до выходного окна кюветы. Матрица фотоприемников имеет форму полусферы, которая расположена параллельно выходному окну кюветы, повторяет его форму и жестко с ним связана. Технический результат - сохранение одинаковой светосилы по сечению кюветы и увеличение разрешения ЦГМ. 3 ил.

Изобретение относится к прецизионной измерительной технике и может быть использовано в различных отраслях: метрологии, приборостроении, в отсчетных системах измерительных приборов, координатно-измерительных машин и прецизионных станков, аэрокосмической промышленности, при обработке материалов, автоматизации, в робототехнике, в оптико-механической промышленности, а также во всех высокотехнологичных отраслях техники, науки и т.д. Датчик линейных перемещений - это устройство, содержащее две дифракционные решетки, из которых одна измерительная, жестко связанная с направляющей, а другая - индикаторная, каретку с источником излучения и матрицу фотоприемников для считывания информации при перемещении одной из решеток по направляющим. Отклонение от линейности поверхности направляющей вносит погрешность в величину перемещения, поэтому направляющая должна быть такой точности обработки, которая соизмерима с точностью датчика линейных перемещений. Технический результат изобретения - повышение точности датчика линейных перемещений на всем протяжении измерения линейного размера объекта независимо от качества направляющих. 2 ил.

Изобретение относится к области машиностроения, в частности к конструкциям подшипников, и может быть использовано в различных отраслях промышленности

Изобретение относится к измерительной технике, точнее к области измерения линейных размеров объектов и линейных перемещений фотоэлектрическими преобразователями перемещения (датчиками) на базе дифракционных решеток, и может быть использовано в машиностроении, станкостроении, оптико-механической и аэрокосмической промышленности для измерения концевых мер, а также во всех высокотехнологических (в том числе и нано) отраслях

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к приборам для определения координат поверхности измеряемой детали

Изобретение относится к измерительной технике, точнее к области измерения отклонения от плоскостности поверхности и может быть использовано в машиностроении, оптико-механической промышленности, а также во всех высокотехнологических отраслях промышленности, в науке, технике и т.д

Изобретение относится к измерительной технике, точнее к области определения координат поверхности (измеряемой детали), и может быть использовано в машиностроении, станкостроении, оптико-механической промышленности, а также во всех высокотехнологических отраслях промышленности, науки, техники и т.д

 


Наверх