Патенты автора Шестаков Николай Петрович (RU)
Изобретение относится к способу получения тонких магнитных наногранулированных пленок. Способ включает последовательное осаждение на термостойкую подложку тонкой пленки оксида ферромагнитного металла и слоя металла-восстановителя при комнатной температуре с последующим вакуумным отжигом полученной двухслойной пленки. Слой оксида ферромагнитного металла наносят высокочастотным магнетронным распылением металлической кобальтовой мишени в атмосфере из смеси газов, состоящей из 70% аргона и 30% кислорода при комнатной температуре. На полученный слой в качестве металла-восстановителя осаждают слой алюминия методом низкочастотного магнетронного распыления в атмосфере чистого, не менее 99,99%, аргона, после чего осуществляют вакуумный отжиг полученной двухслойной пленки при температуре 700°С. Технический результат заключается в упрощении технологии получения пленок, отсутствует агломерация магнитных наногранул, обеспечении возможности синтеза пленок с магнитными наногранулами заданного размера от единиц до сотни нанометров с малой дисперсностью магнитных наногранул. 2 ил., 1 пр.
Изобретение относится к способам введения частиц в вещество и может быть использовано для получения суспензий частиц, содержащих наполнители контролируемого размера, в том числе для введения частиц контролируемого размера от наночастиц до атомарных в матрицу термопластических и сетчатых полимеров. Способ получения суспензии на полимерной основе с высокодисперсными металлическими частицами для изготовления полимерных матриц, наполненных упомянутыми частицами, включает получение высокодисперсных частиц распылением металла, размещенного на вольфрамовом испарителе, последующим введением упомянутых частиц в полимерную жидкость путем распыления с помощью газового потока и прохождения упомянутых частиц сквозь диафрагму над поверхностью жидкости в камере в газовой среде с регулируемым давлением, и перемешивание введенных частиц в полимерной жидкости с регулированием ее давления и температуры с получением суспензии. Обеспечивается получение суспензии с частицами регулируемого размера от нанометрового до атомарного. 1 ил., 5 пр.
Изобретение относится к области теплометрии и может быть использовано для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочных образцов, например образцов теплозащитных экранов, используемых в космической промышленности. Устройство для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочного образца содержит криостат, плоские образец и поглотитель, установленные параллельно на небольшом расстоянии друг от друга, два датчика, измерители температуры и источник мощности, соединенный с нагревателем поглотителя или образца при измерении поглощающей или излучающей способности. Поглотитель и образец содержат тонкопленочные термометр сопротивления и нагреватель, изолированные друг от друга диэлектрическим слоем и распределенные по площади поглотителя и образца. Суммарная теплоемкость термометра сопротивления и нагревателя меньше теплоемкости образца и поглотителя. Поглотитель имеет теплоемкость, равную или меньшую теплоемкости образца, а источник мощности является генератором переменного сигнала. Технический результат - повышение точности и чувствительности устройства при измерении поглощающей и излучающей способностей тонкопленочного образца. 2 ил.
ФОТОПРИЕМНИК // 2462742
Изобретение относится к фотоприемникам и предназначено для селективной регистрации оптических сигналов в оптоэлектронных устройствах
УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАПРАВЛЕННОЙ ПОЛИМЕРИЗАЦИИ // 2444529
Изобретение относится к направленному выращиванию полимеров и предназначено для выращивания мономолекулярных химически связанных полимеров
КВАДРАТУРНОЕ ФОТОПРИЕМНОЕ УСТРОЙСТВО // 2335034
Изобретение относится к оптоэлектронике и интерферометрии, предназначено для измерения пространственного распределения интенсивности света в интерференционном поле, образованном встречными световыми потоками
ИНТЕРФЕРОМЕТР // 2277222
Изобретение относится к спектроскопии Фурье, интерферометрии, оптоэлектронике, голографии и предназначено для электронного измерения пространственного распределения амплитуд и фаз световых волн
