Патенты автора Гречников Александр Анатольевич (RU)

Изобретение относится к способу определения химических соединений, принадлежащих к группе тиурамдисульфидов, включающему пробоподготовку анализируемого раствора путем экстракции определяемых соединений, ионизацию молекул определяемых соединений и детектирование ионов в масс-спектрометре. Способ характеризуется тем, что химические соединения, принадлежащие к группе тиурамдисульфидов, предварительно переводят в комплексные соединения путем взаимодействия с переходными металлами, полученные комплексные соединения экстрагируют из анализируемого раствора, экстрагент наносят на твердотельную подложку, хорошо поглощающую лазерное излучение и обеспечивающую ионизацию находящихся на поверхности соединений путем переноса электрона, воздействуют на подложку импульсным лазерным излучением и детектируют полученные в результате такого воздействия ионы. Изобретение позволяет увеличить чувствительность анализа при определении химических соединений группы тиурамдисульфидов и уменьшить длительность анализа. 6 з.п. ф-лы, 4 пр., 3 ил.

Изобретение относится к области масс-спектрометрического анализа газообразных веществ. Технический результат - повышение чувствительности масс-спектрометрического анализа газообразных веществ, а также длительности и устойчивости работы прибора. Способ масс-спектрометрического анализа газообразных веществ включает подачу анализируемой газовой смеси в зону ионизации, ионизацию компонентов смеси путем воздействия потоком фотонов или частиц в газовой среде и подачу образованных ионов путем приложения электростатического поля в масс-анализатор. В качестве газовой среды используют анализируемую смесь, направленную навстречу потоку ионов анализируемых соединений, причем подачу ионов в масс-анализатор осуществляют при значениях напряженности электростатического поля в пределах 0.1 В/см-20 кВ/см. Ионизацию компонентов смеси осуществляют воздействием потоком фотонов, и/или ионов, и/или атомов в метастабильном состоянии, генерируемых лазерной плазмой, потоком электронов, генерируемых радиоактивным источником или ускорителем, потоком фотонов, генерируемых лазером или источником ультрафиолетового излучения, например криптоновой лампой, потоком заряженных частиц и атомов в метастабильном состоянии, генерируемых электрораспылением жидкости, не содержащей анализируемых соединений, потоком заряженных частиц и атомов в метастабильном состоянии, генерируемых коронным разрядом. Подачу анализируемой газовой смеси в зону ионизации выполняют с возможностью фильтрации анализируемой смеси от твердых и жидких частиц со скоростью потока в зоне ионизации не менее 1,4 см/сек, а в качестве масс-анализатора используют масс-спектрометр или спектрометр ионной подвижности.8 з.п. ф-лы, 1 ил., 1 табл.

Изобретение относится к способам лазерной десорбции-ионизации, может быть использовано для масс-спектрометрического анализа и идентификации химических соединений в жидких и газообразных пробах. Способ масс-спектрометрического определения химических соединений включает нанесение молекул химических соединений на поверхность твердотельного материала путем адсорбции или осаждения, лазерную десорбцию-ионизацию путем воздействия на материал импульсным лазерным излучением и детектирование ионов химических соединений в масс-анализаторе. Причем лазерную десорбцию-ионизацию ведут в присутствии газа-реагента, выбранного из группы соединений общей формулы CnH2nR, где n=1÷4, R=ОН, CN, I. Техническим результатом является повышение достоверности и надежности идентификации химических соединений, в частности, за счет выделения в масс-спектре пика, характеризующего молекулярную массу соединения при снижении концентрации анализируемых соединений. 11 з.п. ф-лы, 6 ил.

Изобретение относится к области химического анализа веществ. В способе анализа химического состава материалов, включающем лазерное испарение или абляцию исследуемых образцов, ионизацию продуктов лазерного испарения или абляции исследуемых образцов и детектирование полученных ионов масс-анализатором, используют дополнительно введенную твердую мишень для генерации лазерной плазмы путем воздействия на нее лазерным излучением, а ионизацию продуктов лазерного испарения или абляции образцов осуществляют с использованием полученной лазерной плазмы. Ионизацию продуктов лазерного испарения или абляции образцов ведут в присутствии дополнительно введенного газа-реагента, в качестве которого используются химические соединения, содержащие гидроксильные, или амино-, или сульфгидрильные группы, и осуществляют излучением лазерной плазмы, энергия квантов которого превышает потенциал ионизации продуктов лазерного испарения или газа-реагента. Лазерное испарение осуществляют посредством пространственного сканирования поверхности анализируемого твердого или жидкого образца лазерным лучом, а исследуемый образец размещают с возможностью его перемещения относительно масс-спектрометра и/или лазерного луча. Технический результат - возможность определения широкого класса химических соединений с высокой чувствительностью в реальном времени. 12 з.п. ф-лы, 6 ил.

Изобретение относится к области химического анализа веществ и направлено на обеспечение возможности количественного высокочувствительного определения металлов и комплексных соединений металлов в природных и промышленных объектах, для решения задач биотехнологии и медицины, в фармакологии для определения концентрации металлсодержащих лекарственных препаратов, для экспресс-анализа содержания металлов при экологическом контроле. Указанный результат достигается способом определения металлов и комплексных соединений металлов в природных и промышленных объектах, включающим нанесение комплексного соединения определяемого элемента на эмиттер ионов, воздействие на эмиттер ионов импульсным лазерным излучением и детектирование полученных в результате такого воздействия ионов анализатором, при этом в качестве эмиттера ионов используют твердотельную подложку, длину волны лазерного излучения выбирают из условия его поглощения материалом твердотельной подложки и комплексным соединением определяемого элемента, а плотность энергии лазерного излучения выбирают равной или ниже порогового уровня разрушения поверхности твердотельной подложки. Технический результат - повышение чувствительности способа определения металлов и комплексных соединений металлов. 8 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к способам создания подложек, применимых в качестве эмиттеров ионов химических соединений в аналитических приборах, предназначенных для определения состава и количества химических соединений в аналитических приборах, в частности в масс-спектрометрах и спектрометрах ионной подвижности

Изобретение относится к области аналитического приборостроения и может быть использовано при решении задач органической и биоорганической химии, биотехнологии и экологии, в частности в системах для определения состава и количества химических соединений в виде газовой фазы, растворов и биологических жидкостей

Изобретение относится к процессам химической обработки полупроводниковых пластин и может быть использовано для создания кремниевых подложек с наноразмерной структурой, применимых в качестве эмиттеров ионов в аналитических приборах и для создания светоизлучающих устройств

Изобретение относится к разработке и конструированию систем для определения состава и количества химических соединений, в частности в масс-спектрометрах и спектрометрах ионной подвижности

Изобретение относится к методам десорбции-ионизации химических соединений и может быть использовано для определения следовых количеств химических соединений в газах и жидкостях с использованием подложек, применимых в качестве эмиттеров ионов в аналитических приборах, в частности, масс-спектрометрах и спектрометрах ионной подвижности

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и направлено на решение вопроса создания постоянного в длительном временном интервале потока паров веществ и его направленного регулирования

 


Наверх