Патенты автора Клюев Сергей Владимирович (RU)
Изобретение относится к неразрушающему контролю
Изобретение относится к комбинированным методам неразрушающего контроля, а именно к измерению параметров (толщины, структурного состояния, электрофизических и теплофизических свойств) особенно сверхтонких однослойных металлических покрытий и многослойных металлических слоев, нанесенных на диэлектрические основания современными высокими нанотехнологиями
Изобретение относится к технологии приборостроения и может быть использовано в машиностроении и других областях техники для бесконтактного измерения дисбаланса вала турбодетандера, биения лопаток энергоустановки, а также поверхностей сложной геометрии из электромагнитных материалов и в условиях меняющихся температур
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к многопараметровому контролю геометрических параметров и электрофизических свойств материала изделий, и предназначено для использования в агрессивных средах типа соляных и кислотных паров, воздействия посторонних электромагнитных полей в технике отработки элементов космических аппаратов, энерготехнических систем, резервуаров атомной промышленности и др
