Патенты автора Бабаджанов Леон Сергеевич (RU)
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерений толщины пленок и покрытий. В устройстве реализован частотно-интерференционный способ измерения толщины, согласно которому наведение на поверхность покрытия и на границу раздела покрытия с основанием производится интерференцией в инфракрасной области спектра, а измерение толщины производится частотным способом. Оптическая схема устройства построена на волоконной оптике и реализует измерения частоты импульсов света, формирование которых происходит в генераторе импульсов света, реализованном в схеме. Толщину покрытия h определяют по измерению частот импульсов света F1 и F2, формируемых в генераторе при наведениях излучения последовательно на поверхность покрытия и на границу раздела покрытия с основанием, в соответствии с формулой h=c(F2-F1)/2nF1F2, где c - скорость света, n - коэффициент преломления среды. Технический результат – повышение разрешающей способности и точности измерений. 1 ил.
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕРЫ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ // 2392581
Изобретение относится к области приборостроения, а именно к способу изготовления меры толщины покрытия
Изобретение относится к области приборостроения, а именно к средствам поверки толщиномеров покрытий
