Патенты автора Грунин Анатолий Васильевич (RU)
Изобретение относится к области ядерной и радиационной физики и может быть использовано для испытания радиационной стойкости (PC) изделий перспективной электронно-компонентной базы (ЭКБ) разных типов. Технический результат – расширение возможностей ускорителя с точки зрения испытаний современной ЭКБ, возможность селективного воздействия тормозного излучения (ТИ) на отдельные элементы ЭКБ. Технический результат достигается за счет локализации поля ТИ в замкнутом испытательном отсеке для размещения испытываемых изделий ЭКБ, обеспечения коллимированного селективного воздействия на ЭКБ, защиты испытуемой ЭКБ от рассеянных в зале излучений, снижения до приемлемого уровня дозовых нагрузок на оснастку и разъемы и располагаемую вблизи мишени вне испытательного объема регистрирующую аппаратуру, защиты от проникновения электромагнитных наводок (ЭМН) из отсека ускорителя. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Изобретение относится к области ядерной и радиационной физики и может быть использовано для определения динамических и интегральных по времени характеристик высокодозных высокоэнергетичных тормозного или гамма-излучений мощных импульсных источников. Сущность изобретения заключается в том, что в способе измерения верхнего предела интегральных и динамических характеристик высокоэнергетичных тормозного или гамма-излучений мощных импульсных источников осуществляют подбор, а именно возможность подстраивать толщину сцинтиллятора, обеспечивающую прозрачность для собственного оптического излучения, под конкретную ожидаемую дозу при сохранении в целом амплитуды отклика детектора. Технический результат состоит в обеспечении возможности повышения измеряемой дозы в более широком диапазоне. 4 з.п. ф-лы, 5 ил., 1 табл.
Изобретение относится к области дозиметрии и спектрометрии ионизирующих излучений. Способ включает следующие процессы: сначала определяют мощность поглощенной дозы, при этом в качестве детектора сопровождения используют детектор с диэлектрическим рассеивателем, выполненным в виде плоской экранированной системы конденсаторного типа с однородным твердым диэлектриком, причем поперечный размер детектора выбирают размером, соответствующим или превышающим поперечный размер исследуемого образца, измеряют изменения напряжения U(t) на обкладках конденсатора детектора сопровождения в течение импульса ионизирующего излучения, после чего при заранее известных или рассчитанных чувствительностях к ионизирующему излучению образца исследуемого материала K и прилегающего к нему детектора сопровождения S определяют мощность поглощенной дозы в исследуемом образце P(t) по следующей зависимости:
P
(
t
)
=
U
(
t
)
⋅
K
S
, после чего интегрированием по времени воздействия вычисляют поглощенную дозу в исследуемом образце, являющуюся параметром ионизирующего воздействия. Технический результат - расширение возможности применения, снижение погрешности измерения характеристик поля импульсного ионизирующего излучения. 2 з.п. ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к области ядерной и радиационной физики и может быть использовано для регистрации гамма- или тормозного излучения (ТИ) мощных импульсных источников
Изобретение относится к области ядерной и радиационной физики и может быть использовано для регистрации гамма- или тормозного излучения (ТИ) мощных импульсных источников
