Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах. Согласно способу предварительно осуществляют калибровку с помощью плоского эталонного отражателя, затем перпендикулярно оси зеркала по середине расстояния Lфок между фазовым центром облучателя и фокусом зеркала устанавливают эталонный отражатель с известным коэффициентом отражения ГЭТ, измеряют коэффициент отражения
S
11
Э
Т
(
f
)
в той же полосе частот и определяют третий коэффициент
A
3
Э
Т
обобщенного полинома
P
Э
Т
(
f
)
=
∑
A
n
Э
Т
exp
(
−
j
n
2
π
f
L
ф
о
к
/
c
)
, аппроксимирующего разность измеренных коэффициентов отражения, отнесенных к апертуре облучателя:
P
Э
Т
(
f
)
≈
(
S
11
Э
Т
(
f
)
−
S
11
И
А
(
f
)
)
exp
(
j
2
φ
И
О
(
f
)
)
,
после чего вместо эталонного отражателя устанавливают испытуемый отражатель, измеряют коэффициент отражения на входе измерительной антенны
S
11
И
О
(
f
)
в той же полосе частот и определяют третий коэффициент полинома
P
И
О
(
f
)
=
∑
A
n
И
О
exp
(
−
j
n
2
π
f
L
ф
о
к
/
c
)
, аппроксимирующего разность коэффициентов отражения
S
11
И
О
(
f
)
−
S
11
И
А
(
f
)
, отнесенных к
A
3
И
С
апертуре облучателя
P
Э
Т
(
f
)
≈
(
S
11
И
О
(
f
)
−
S
11
И
А
(
f
)
)
exp
(
j
2
φ
И
О
(
f
)
)
,
коэффициент отражения ГИО испытуемого отражателя определяют по формуле
Г
И
О
=
Г
Э
Т
|
A
3
И
О
|
/
|
A
3
Э
Т
|
3
. Устройство измерения коэффициента отражения содержит измерительную антенну, эталонный плоский отражатель, прибор измерения комплексной амплитуды отраженного сигнала, СВЧ-кабель, вычислитель. При этом антенна выполнена в виде осесимметричного параболического зеркала с облучателем в его вершине, а на краю зеркала закреплен радиопрозрачный фиксатор с механизмом юстировки положения плоского отражателя. Технический результат изобретения - повышение точности измерения коэффициента отражения. 2 н.п. ф-лы, 5 ил.