Патенты автора Иванникова Наталья Витальевна (RU)
Изобретение относится к технологиям получения топографической карты поверхности интерференционным методом и позволяет контролировать форму выпуклой сферической (СП) или асферической (АП) поверхностей. Технический результат - возможность получения топографической карты выпуклых СП или АП оптических деталей. Монохроматический пучок параллельных лучей направляют на контролируемую выпуклую поверхность так, что часть пучка отражается от контролируемой поверхности, образуя объектный пучок, а часть - проходит мимо, и образует опорный пучок, который, взаимодействуя с объектным пучком, образует интерферограмму в виде системы дуг, позволяющих однозначно определить форму контролируемой поверхности. Ось симметрии контролируемой СП или АП ориентируется перпендикулярно направлению распространения параллельного пучка лучей, что дает возможность контролировать выпуклые поверхности большого диаметра без применения оптических деталей, размеры которых превышают размеры контролируемых поверхностей. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил.
СПОСОБ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛЕГКОЛЕТУЧИХ ЭЛЕМЕНТОВ В РАЗЛИЧНЫХ НЕОРГАНИЧЕСКИХ ОБЪЕКТАХ // 2436071
Изобретение относится к области аналитической химии, в частности к методам определения легколетучих элементов (ртути, мышьяка, селена, теллура и т.п.) в неорганических веществах и материалах
Изобретение относится к области аналитической химии
