Патенты автора Кадушников Радий Михайлович (RU)
Изобретение направлено на устранение артефактов в виде стыковочных швов на границах сшитых кадров и неоднородности освещения, повышение качества панорамных изображений, ускорение их формирования в режиме реального времени. Техническим результатом является повышение быстродействия создания панорамных изображений. Предложен способ устранения швов при создании панорамных изображений из видеопотока кадров в режиме реального времени. Способ включает выявление множества характерных элементов, сравнение изображения текущего кадра с результирующим изображением, определение координат вектора смещения текущего кадра, сдвиг изображения текущего кадра на рассчитанные координаты вектора смещения, расчет границы области перекрытия, добавление смещенного изображения текущего кадра к результирующему, устранение шва между соседними кадрами. Далее, определяют угол поворота камеры, производят выравнивание освещенности изображений кадров, устраняют размытые участки изображения в пределах кадра, затем вокруг выявленных характерных элементов строят характерные прямоугольные области, далее на процессоре видеокарты производят операцию сравнения характерных прямоугольных областей изображений. 14 ил.
Способ формирования панорамных изображений из видеопотока кадров в режиме реального времени // 2626551
Изобретение относится к области обработки изображений. Технический результат – обеспечение ускорения работы алгоритма формирования панорамных изображений. В способе формирования панорамных изображений из видеопотока кадров в режиме реального времени на изображениях кадров выявляют множества характерных элементов, изображение текущего кадра сравнивают с результирующим изображением, определяют координаты вектора смещения текущего кадра и изображение текущего кадра сдвигают на рассчитанные координаты вектора смещения, рассчитывают границу области перекрытия и смещенное изображение текущего кадра добавляют к результирующему; причем вокруг выявленных характерных элементов строят характерные прямоугольные области, сравнивают множества характерных прямоугольных областей, при этом изображение текущего кадра сравнивают только с соседними опорными кадрами и только в областях интереса изображений текущего и опорных кадров, рассчитывают величину средней интенсивности пикселей изображения текущего кадра; определяют координаты вектора смещения текущего кадра относительно соседних опорных кадров; изображение текущего кадра сдвигают относительно изображений соседних опорных кадров и добавляют к результирующему изображению. 2 з.п. ф-лы, 8 ил.
Изобретение относится к области медицины. Для поддержки принятия диагностических решений используют автоматизированную систему, которая содержит модуль хранения результатов обследования, модуль поддержки принятия решений, модуль анализа изображений, модуль распределенного хранения результатов обследования, модуль управления знаниями, а также систему управления базами данных, при этом модуль хранения результатов обследования и модуль распределенного хранения результатов обследования содержат подсистему управления данными, подсистему анализа данных и подсистему удаленного доступа, модуль поддержки принятия решений содержит подсистему управления расчетами, подсистему визуализации, подсистему классификации, модуль анализа изображений содержит подсистему анализа изображений, модуль управления знаниями содержит подсистему машинного обучения, система управления базами данных содержит базу анкет, базу изображений и базу дескрипторов, а также блок управления анкетами и блок управления изображениями. Система оптимизирует процесс диагностики в режиме реального времени за счет автоматического анализа данных. 1 пр., 2 ил.
Изобретение относится к технологии контроля качества измерений, проводимых с использованием компьютерных систем анализа изображений, и может быть использовано для оценки систематической погрешности морфологических характеристик структуры материалов тел в конденсированном состоянии. Способ включает получение изображения поверхности стандартного образца, обработку этого изображения и выделение на нем объектов измерений, проведение измерений и сравнение полученного результата с опорным значением. В качестве стандартного образца используют поверхность с имитациями структуры материала, рисунок которой получен цифровой обработкой изображения репрезентативного участка этого материала, подготовленного в соответствии с оцениваемой методикой. Стандартный образец содержит поверхность, на которой с сохранением масштаба сформированы имитации структуры материала, рисунок которой получен цифровой обработкой изображения репрезентативного участка этого материала, подготовленного в соответствии оцениваемой методикой. При этом обеспечивается оценка и контроль показателей точности методики измерений в целом, упрощается технология оценки и контроля за счет исключения подготовки репрезентативного участка поверхности образца, а также повышается стабильность метрологических характеристик стандартного образца и обеспечивается возможность тиражировать его в неограниченном количестве при идентичности всех производимых экземпляров. 2 н. и 5 з.п. ф-лы, 7 ил.
Изобретение относится к разделу измерительной техники, используемой в ультразвуковых технологиях, - к бесконтактной виброметрии и может быть применено для калибровки и настройки ультразвуковых технологических и медицинских аппаратов, а именно для измерения амплитуды и размаха колебаний рабочих элементов (наконечников) ультразвуковых систем, применяемых для интенсификации технологических процессов, размерной обработки хрупких и особо твердых материалов, для выполнения граверных работ, а также для медицинских целей (хирургические операции, процедуры липосакции, точечный и зональный массаж и др.)
Изобретение относится к области нанотехнологии, связанной с индикаторным определением размерности нанокристаллической продукции, особо связанной с установлением наличия наноразмерной фракции кристаллов фторида натрия в нанокристаллических покрытиях на подложках в продуктах плазменного или лазерного распыления кристаллов фторида натрия без применения электронных микроскопов; оно может найти применение в химической и оптоэлектронной промышленности при контроле качества изготовления оптически активных низкоразмерных покрытий на основе фторида натрия и изделий на их основе: волноводов, линий задержки, планарных люминесцентных индикаторов, планарных быстрых сцинтилляторов, элементов фотоники и интегральной оптики
