Патенты автора Шевченко Игорь Николаевич (RU)
Изобретение относится к области радиоизмерений и может быть использовано при аттестации и контроле собственных S-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле метрологических характеристик СВЧ устройств
Изобретение относится к области радиоизмерений и может быть использовано при измерении комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ
Изобретение относится к области радиоизмерений и может быть использовано при измерениях амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников СВЧ
Изобретение относится к области измерительной техники