Патенты автора Ева Игорь Васильевич (RU)

Изобретение относится к области машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам активного контроля и измерения действительных размеров наружных поверхностей изделий типа оболочка вращения

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала

 


Наверх