Патенты автора Летягин Игорь Юрьевич (RU)
Изобретение относится к способу лазерной сварки изделий с глубоким проплавлением и может быть использовано при лазерной сварке с контролем процесса формирования сварного шва непосредственно в процессе сварки. Способ включает сварку в вакууме лазерным лучом с контролем процесса формирования сварного шва. Согласно первому варианту в процессе сварки управляют удельной мощностью лазерного луча. Измеряют амплитуду и/или частоту вторично-эмиссионного электронного тока в плазме, образующейся над зоной воздействия лазерного луча на металл свариваемого изделия. Для этого устанавливают над зоной сварки коллектор заряженных частиц, подают на коллектор положительный потенциал относительно свариваемого изделия и создают внешнюю цепь для зарядов плазмы. В процессе сварки поддерживают амплитуду и/или частоту полученного сигнала на заданном уровне. Согласно второму варианту измеряют амплитуду и/или частоту ионного тока в плазме, образующейся над зоной воздействия лазерного луча на металл свариваемого изделия. Для этого устанавливают над зоной сварки коллектор заряженных частиц, подают на коллектор отрицательный потенциал относительно свариваемого изделия и создают внешнюю цепь для зарядов плазмы. В процессе сварки поддерживают амплитуду и/или частоту полученного сигнала на заданном уровне. Техническим результатом при использовании изобретения является повышение качества сварных соединений, полученных при лазерной сварке с глубоким проплавлением.2 н.п. ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к способу обработки металлов лазерным лучом. Техническим результатом является повышение качества лазерной обработки, в частности качества формируемого изделия при лазерных аддитивных технологиях и качества сварных соединений, полученных при лазерной сварке с глубоким проплавлением. Процесс лазерной обработки осуществляют сканирующим лазерным лучом в вакуумной атмосфере. Регистрируют вторично-эмиссионный электрический сигнал из зоны воздействия лазерного луча. Обрабатывают этот сигнал методом когерентного накопления и устанавливают удельную мощность лазерного луча таким образом, чтобы сдвиг фаз между обработанным вторично-эмиссионным сигналом и сигналом, обеспечивающим сканирование лазерного луча, был минимальным. 3 ил.
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОКРЫТЫХ ЭЛЕКТРОДОВ // 2366549
Изобретение относится к области сварки, в частности к дуговой сварке покрытыми электродами, и может найти применение при создании новых покрытых электродов
