Патенты автора Шопин Геннадий Павлович (RU)

Изобретение относится к измерительной технике. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит испытуемую микросхему 1, генератор прямоугольного напряжения 2, рабочую микросхему 3, вольтметр 4, первый источник опорного напряжения 5, первый компаратор 6, элемент И 7, счетчик импульсов 8, коммутатор 9, элементы нагрузки 10 - 1…10 - k, второй источник опорного напряжения 11, второй компаратор 12, преобразователь ток-напряжение 13. Технический результат - повышение точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем. 1 ил.

Устройство для подгонки толстопленочных резисторов относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для изготовления высокоточных и прецизионных пленочных резисторов. Устройство для подгонки толстопленочных резисторов содержит источник опорного напряжения (1), устройство сравнения (2), измеритель сопротивления (3), блок анализа знаков (4), блок выделения модуля (5), управляемый источник опорного напряжения (6), аналого-цифровой преобразователь (АЦП) (7), мультивибратор (8), регистр сдвига (9), первую группу элементов И (10-1…10-n), блок хранения данных (11), вторую группу элементов И (12-1…12-n), цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) (13), генератор факельного разряда (14), рабочий электрод (15), подгоняемый резистор (16), подложкодержатель (17), элемент ИЛИ (18). Техническим результатом является расширение функциональных возможностей и повышение процента выхода годных пленочных резисторов. 1 ил.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит источник опорного напряжения 1, генератор прямоугольного напряжения 2, испытуемую микросхему 3, повторитель 4, компаратор 5, элемент И 6, одновибратор 7, элементы нагрузки 8-1…8-k, коммутатор 9, реверсивный счетчик импульсов 10, дешифратор 11 и индикатор 12. Техническим результатом при реализации заявленного решения является повышение точности и достоверность определения нагрузочной способности микросхем. 1 ил.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит источник опорного напряжения 1, генератор прямоугольного напряжения 2, испытуемую микросхему 3, повторитель 4, компаратор 5, элемент И 6, одновибратор 7, элементы нагрузки 8-1…8-k, коммутатор 9, счетчик импульсов 10, реверсивный счетчик импульсов 11, дешифратор 12 и индикатор 13. Оно позволяет повысить точность и достоверность определения нагрузочной способности микросхем. 1 ил.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Технический результат заключатся в повышении точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, вольтметр 3, элементы нагрузки 4-1…4-k, коммутатор 5, элемент И 6, компаратор 7, счетчик импульсов 8 и источник опорного напряжения 9. 1 ил.

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Технический результат: повышение точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем. Сущность: устройство содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, рабочую микросхему 3, вольтметр 4, элементы нагрузки 5-1…5-k, коммутатор 6, элемент И 7, компаратор 8, счетчик импульсов 9, источник опорного напряжения 10. В устройстве последовательно соединены генератор прямоугольного напряжения 1, рабочая микросхема 3, элемент И 7 и счетчик импульсов 9, а также источник опорного напряжения 10 и компаратор 8. Входная клемма испытуемой микросхемы 2 также подключена к выходу генератора прямоугольного напряжения 1. Сигнальные входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы 2. Управляющие входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и также подключены к выходу рабочей микросхемы 3. Выход вольтметра 4 связан со вторым входом компаратора 8, выход которого подключен ко второму входу элемента И 7. Каждый из выходов коммутатора 6 подключен к входу одноименного элемента нагрузки 5-1…5-k. 1 ил.

Изобретение относится к изготовлению прецизионных пленочных резисторов. Устройство содержит источник опорного напряжения (1), устройство сравнения (2), измеритель сопротивления (3), аналого-цифровой преобразователь (АЦП) (4), мультивибратор (5), регистр сдвига (6), первую группу элементов И (7-1…7-n), блока хранения данных (8), вторую группу элементов И (9-1…9-n), цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) (10), генератор факельного разряда (11), рабочий электрод (12), подгоняемый резистор (13), подложкодержатель (14), элемент ИЛИ (15). Техническим результатом является повышение точности и стабильности процесса факельной подгонки толстопленочных резисторов с помощью разрядов различной мощности. 1 ил.

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров усилителей при их производстве

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров усилителей при их производстве

Изобретение относится к микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров двуханодных стабилитронов при их производстве

Изобретение относится к области технологии контроля радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров двуханодных стабилитронов при их производстве

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых диодов при их производстве

Изобретение относится к технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых диодов при их производстве

Изобретение относится к микроэлектронике и служит для контроля качества металлизации электронных приборов в процессе их производства

Изобретение относится к прецизионным пленочным резисторам

Изобретение относится к прецизионным пленочным резисторам

 


Наверх