Патенты автора Вихрова Ольга Викторовна (RU)

Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа определения знака циркулярной поляризации света. Знак циркулярной поляризации света определяется путем воздействия света на снабженный двумя электродами фоторезистивный элемент, чувствительный к смене знака циркулярной поляризации, измерения электрического сопротивления между электродами и определения знака циркулярной поляризации света по совпадению величины измеренного сопротивления с величиной предварительно откалиброванного сопротивления между электродами этого же фоторезистивного элемента. В качестве фоторезистивного элемента используют МДП наноструктуру, состоящую из металлического слоя на основе CoPt, диэлектрического слоя на основе Al2O3 и/или SiO2 и полупроводникового слоя на основе гетероструктуры InGaAs/GaAs, сформированных на непроводящей подложке. Технический результат заключается в обеспечении возможности подстройки чувствительности оптически активного элемента к смене определяемого знака поляризации. 2 н.п. ф-лы, 3 ил.

Группа изобретений относится к способам имитационного тестирования изделий микро- и наноэлектроники. На приборную структуру воздействуют эквивалентным облучением ионами с флюенсом от 109 см-2 до 1015 см-2 и энергией в интервале 1-500 кэВ, уточняемыми в зависимости от состава и морфологии структуры, при этом уточняемые величины флюенса и энергии ионов, обеспечивающие эквивалентность, определяют расчетом, путем компьютерного моделирования концентрации и распределения смещенных атомов при облучении ионами в чувствительных областях приборной структуры и сравнения с результатами такого же компьютерного моделирования при облучении быстрыми нейтронами, причем для установления правильности расчета эквивалентного флюенса выбирают флюенс ионного облучения, при котором изменение критериальных параметров превышает порог чувствительности средства контроля критериальных параметров, определяют соответствующий эквивалентный флюенс облучения быстрыми нейтронами, проводят разовое натурное испытание облучением приборной структуры быстрыми нейтронами при эквивалентном флюенсе, сравнивают полученное отклонение критериальных параметров с отклонением при выбранном флюенсе ионного облучения и судят по результату сравнения о правильности расчета эквивалентного флюенса. Технический результат - повышение достоверности результатов испытаний, сокращение времени испытания, использование доступного для исследователей оборудования. 2 н. и 6 з.п. ф-лы, 13 ил., 2 табл.

Изобретение относится к светоизлучающим диодам, которые используются в оптической связи, в оптических компьютерах и т.п

 


Наверх