Патенты автора Тютюнников Сергей Иванович (RU)

Изобретение относится к методам элементного анализа состава веществ и может быть использовано при анализе состава порошковых образцов. Способ анализа атомного состава дисперсных порошковых материалов включает испарение материала лазерным излучением, подачу этого материала в плазменную горелку ВЧ разряда потоком рабочего газа, спектральный анализ излучения материала образца, определение амплитуды сигнала детектора исследуемого элемента IХ, при этом на стадии пробоподготовки в материал вводят в виде порошка исследуемый элемент с концентрацией СК, измеряют амплитуду сигнала детектора IК и определяют концентрацию исследуемого элемента СХ по формуле: СХ=IXCK/(IК-IХ), где: СХ - концентрация исследуемого элемента; IХ - сигнал детектора исследуемого элемента; СК - концентрация введенного элемента; IК - сигнал детектора введенного элемента. 3 ил.

Изобретение относится к области анализа состава веществ и касается способа анализа атомного состава органических веществ. При осуществлении способа анализируемое вещество размещают в виде навески пробы массой 50-100 мг в специальной полости плазменной горелки, добавляют до 0.5 мл раствора элемента внутреннего стандарта с концентрацией 10-4 г/г, открывают поток аргона с расходом 0.1 л/мин и нагревают пробу в течение 1 часа при температуре 150-300°С в атмосфере аргона. Затем включают нитевидный ВЧ разряд в режиме инициации нити разряда от самой пробы и возбуждения эмиссии частиц пробы размером до 0.1 мм в разряд. Амплитудно-спектральный анализ излучения этих частиц проводят относительно интенсивностей спектральных линий атомов внутреннего стандарта. Способ осуществляется при помощи устройства, имеющего плазменную горелку в виде цилиндра, переходящего в усеченный конус. В горелку коаксиально вставлена цилиндрическая трубка меньшего диаметра со стопорным кольцом. Проба помещается во внутреннем промежутке между переходом конуса горелки и концом трубки меньшего диаметра Технический результат заключается в повышении чувствительности и упрощении процедуры измерений. 2 н.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к устройствам для спектрального анализа элементного состава вещества. Заявленное устройство для эмиссионного и массового спектрального анализа органических веществ содержит штуцер для подачи рабочего газа, плазменную горелку, плазмообразующий электрод, дополнительный электрод, ВЧ генератор, выход которого соединен с указанными электродами и анализатор спектров излучения, в котором оба из указанных электрода выполнены в виде горизонтально расположенных металлических цилиндров, во внутреннюю полость которых введены штуцеры в виде керамических трубок для подачи и вывода смеси рабочего газа и вещества, а указанная горелка выполнена в виде керамической трубки, соединяющей оба электрода, в центре которой присоединен штуцер с оптическим окном или диафрагмой для вывода излучения, на котором расположен коаксиально третий заземленный кольцевой электрод, при этом штуцер с оптическим окном и третьим заземленным кольцевым электродом выполнены в виде металлического цилиндра с отверстием для прохода рабочего газа и с полостью для ввода веществ, а указанное излучение выведено через штуцер дополнительного электрода. Технической результат заключается в обеспечении возможности анализировать атомный состав органических веществ, а именно состав органических веществ с температурой нагревостойкости не более 300°C. 3 ил.

Изобретение относится к спектральному анализу элементного состава вещества. В устройстве для спектрального анализа состава вещества на платформе на ВЧ генераторе расположены отдельно газовая, жидкостная и твердотельная горелки, которые подключены в порядке использования к штуцеру и к ВЧ генератору перемещением платформы. Изобретение позволяет проводить анализ атомного состава газовых, жидких и твердых веществ с помощью одного устройства. 5 ил.

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано при создании индукционных циклических ускорителей ионов с регулируемой кинетической энергией в медицине и научных исследованиях

Изобретение относится к устройствам для спектрального анализа элементного состава вещества

Изобретение относится к устройствам для спектрального анализа элементного состава вещества

 


Наверх