FindPatent.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора ДАНГ ВАН НАН Кристоф (FR)
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗНАЧЕНИЯ ДВОИЧНОГО ЭЛЕМЕНТА ДАННЫХ, ВЫДАВАЕМОГО ИЗБЫТОЧНО И ХАРАКТЕРИЗУЮЩЕГО ПАРАМЕТР СИСТЕМЫ
// 2413974
Изобретение относится к вычислительной технике