FindPatent.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора Остащенко Артем Юрьевич (RU)
СПОСОБ УСКОРЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
// 2428655
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, преимущественно атомно-силовой микроскопии, и может быть использовано для измерений размеров нанообъектов и рельефа поверхностей, имеющих перепад высот наноразмера