Патенты автора Паламарь Ирина Николаевна (RU)
Изобретение относится к области оценки структуры поверхности на основе информации о профиле. Технический результат заключается в возможности учета полной информации о профиле поверхности за счет анализа спектральных коэффициентов профилограммы. Такой результат достигается за счет того, что на этапе обучения по каждому типу профиля подготавливают множество образцов, снимают профилограммы с поверхностей образцов, профилограмму поверхности представляют в виде сигнала, получают спектр сигнала, используют последовательности спектральных коэффициентов в качестве эталонов класса, соответствующего типу поверхности, выполняют обучение вероятностной модели по набору образцов с кластеризацией спектра профилограммы, получая статистические оценки параметров модели класса, классифицируют спектр профилограммы путем выбора модели с максимальным значением правдоподобия, при этом на этапе обучения вероятностную модель адаптируют под конкретные особенности спектра профилограммы путем использования произвольного метрического алгоритма кластеризации, классы формируют путем группировки профилей образцов по одному или совокупности параметров качества поверхности или по эксплуатационным свойствам поверхности, а оценку параметров профиля выполняют как процедуру классификации спектра профилограммы. 4 ил.
Изобретение относится к области цифровой обработки изображений, связанной с выделением и анализом сегментов. Техническим результатом является повышение точности определения толщины слоя за счет автоматизированного выявления нечеткой границы. Предложен способ автоматического определения толщины слоя с нечеткой границей по изображению. Способ включает в себя этапы, на которых производят сегментацию изображения, проводят границу раздела сегментов слоев, вычисляют фрактальную размерность линии границы, накладывают секущие перпендикулярно границе, проводят вычисления длины секущих и вычисляют среднее арифметическое значение толщины слоя. При этом сегментирование изображения производят автоматически методом выращивания и слияния областей с использованием минимизации многомерных функций гетерогенности как на этапе выращивания, так и на этапе слияния. При проходе вдоль сегмента слоя определяют центры тяжести неперекрывающихся сегментов включений с максимальной глубиной размещения в слое, по которым строят опорные секущие включений. Выделяют опорные точки, в которых глубина размещения включения на секущих максимальна относительно базовой границы, и по опорным точкам строят аппроксимирующую функцию, на основе которой вычисляют линии нечеткой границы методом скользящего окна вариативной ширины. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.
Изобретение относится к средствам цифровой обработки изображений
