Патенты автора Мещеряков Вячеслав Викторович (RU)

Данное изобретение относится к квантовым стандартам частоты. Технический результат -повышение надежности работы устройства и обеспечение работы квантового стандарта частоты с меньшей величиной девиации частоты и увеличением отношения сигнал/шум в точке удержания КПН-резонанса. Для этого предложен квантовый стандарт частоты, содержащий термостатированный кварцевый опорный генератор, полупроводниковый лазер с вертикальным резонатором, стеклянную кювету с атомными парами, фотоприемник, предусилитель фотоприемника, синтезатор частот на основе фазовой автоподстройки частоты (ФАПЧ), блок управления, аналого-цифровой преобразователь, цифроаналоговый преобразователь, при этом стеклянная кювета содержит атомные пары рубидия; синтезатор частот на основе фазовой автоподстройки частоты (ФАПЧ) включает в себя генератор, управляемый напряжением, делитель частоты с дробным коэффициентом деления, фазово-частотный детектор с модулем токовой накачки, петлевой фильтр нижних частот; блок управления выполнен на основе программируемой логической интегральной микросхемы. 7 ил.

Изобретение относится к квантовым стандартам времени и частоты. Технический результат заключается в обеспечении стабильных параметров среды квантового дискриминатора и упрощении его изготовления. Квантовый дискриминатор частоты содержит двухслойный корпус цилиндрической формы, представляющий собой магнитный экран, катушку Баркера для создания однородного магнитного поля, газовую ячейку, кроме того, внешний слой указанного корпуса дополнительно содержит входную и заднюю торцевые заглушки, а также отверстие для установки поляризатора и волновой пластинки; внутренний слой образован полым цилиндром, внутри которого по принципу матрешки расположены катушка Баркера, цилиндрическая теплоизолирующая рубашка, цилиндрическая печка с нагревателем, в основной полости которой размещена газовая ячейка, а в середине боковой поверхности указанной печки выполнены две дополнительные полости для установки в них опорного и контрольного термистора и отверстие, создающее зону минимальной температуры. Торцы указанной печки закрыты теплоизолирующими шайбами с осевыми отверстиями для лазерного пучка; торцы внутреннего слоя корпуса закрыты крышками, на которые помещены входной и выходной изоляторы; в выходном изоляторе выполнена ниша для установки фотодетектора, а между задней торцевой заглушкой и нишей для установки фотодетектора расположено промежуточное кольцо для обеспечения электрической изоляции. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к технике контроля и исследования материалов и изделий и может быть использовано для определения параметров рельефа поверхности (линейные размеры, шероховатость), механических (твердость, модуль упругости) и трибологических (коэффициент трения, износостойкость, время жизни покрытий) характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением. Устройство содержит индентор, установленный на упругом элементе, по меньшей мере, два оптических датчика, каждый из которых включает источник оптического излучения и его приемник. Упругий элемент выполнен П-образным, стойки П-образного упругого элемента закреплены на держателе, индентор установлен на перекладине П-образного упругого элемента. П-образный упругий элемент выполнен с возможностью, по меньшей мере, частичного перекрытия потока оптического излучения оптических датчиков и изменения площади перекрытия потока при своем изгибе или содержит установленное на нем приспособление, выполненное с возможностью, по меньшей мере, частичного перекрытия потока оптического излучения оптических датчиков и изменения площади перекрытия потока при своем изгибе. По меньшей мере, один из оптических датчиков выполнен с возможностью контроля изгиба перекладины в плоскости П-образного элемента в процессе измерения, а другой из оптических датчиков - с возможностью контроля изгиба стоек в плоскости П-образного элемента в процессе измерения. Технический результат: повышение качества, достоверности и стабильности измерений, повышение технологичности устройства при его производстве. 6 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к технике контроля и исследования материалов и изделий и может быть использовано для определения параметров рельефа поверхности и механических характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением

 


Наверх