Патенты автора Алеев Алексей Муратович (RU)
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения и деформаций поверхностей большой площади или протяженности, и может быть использовано для контроля неплоскостности, непараллельности крупногабаритных конструкций в машиностроении, строительстве. Устройство для контроля деформаций поверхности конструкций и сооружений большой площади содержит содержащее базовый блок, визирные цели, выполненные в виде излучателей, оптически сопряженные с базовым блоком через оптическую систему и установленные по периметру объекта, причем количество визирных целей не менее количества точек, однозначно задающих форму объекта, приемник оптического излучения, связанный с ним блок питания и управления приемником оптического излучения, устройство сопряжения блоков, связанное с блоком питания и управления приемником оптического излучения и вычислительным устройством. При этом устройство содержит по меньше мере один дополнительный базовый блок, расположенный на контролируемой поверхности симметрично относительно первого базового блока, при этом визирные цели выполнены в виде набора реперных меток и опорных меток, которые оптически сопряжены с дополнительным базовым блоком через оптическую систему и расположены в центре поля зрения оптической системы каждого из базовых блоков. Технический результат заключается в повышении точности измерения деформаций плоских конструкций большой площади. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике
