Патенты автора Стрекаловский Виктор Николаевич (RU)
Изобретение относится к области электронно-микроскопического исследования нанотонких кристаллов
Изобретение относится к области аналитического контроля материалов методом спектроскопии комбинационного рассеяния света (СКРС) и может быть использовано при исследовании и контроле порошков, керамики и изделий на их основе, например материалов высокотемпературных электрохимических устройств на основе твердых растворов оксидов со структурным типом флюорита (пространственной группы ) на основе CeO2, ThO2, ZrO2 , HfO2, Bi2O3 с добавками оксидов с трех- или двухвалентными катионами
