Патенты автора СУНЬ Хуаньдэ (CN)

Изобретение относится к производству текстурированной электротехнической стали. Способ включает выплавку и отливку для получения стальной заготовки, нагрев стальной заготовки и горячую прокатку для получения стальной полосы, нормализацию, которую выполняют в две стадии: сначала полосу нагревают до 1100-1200°C, затем охлаждают до 900-1000°C за 50-200 с, после чего полосу быстро охлаждают в воде с температурой 10-100°C с одновременным приложением к стальной полосе силы натяжения, при этом в температурном диапазоне 900-500°C на полосу действует сила напряжения 1-200 Н/мм2. После нормализации проводят однократную холодную прокатку или двукратную холодную прокатку с промежуточным отжигом, первичный рекристаллизационный отжиг, нанесение сепаратора отжига, содержащего в основном MgO для проведения отжига итогового изделия, при этом отжиг включает отжиг вторичной рекристаллизации и отжиг рафинирования. Изобретение позволяет оптимизировать содержание и распределение мартенсита в стальном листе после нормализации путем регулирования натяжения стального листа, в результате чего содержание мартенсита оказывается в пределах, способствующих улучшению магнитных свойств итогового изделия, что позволяет оптимизировать магнитные свойства итоговых изделий. 1 з.п. ф-лы, 5 табл., 2 ил., 4 пр.

Предложенное изобретение относится к измерительной технике, представляет собой способ определения магнитной индукции текстурированной электротехнической стали и может применяться в случаях, когда отсутствуют устройства измерения магнитных свойств или их невозможно использовать в силу таких причин, как слишком малые вес и размер образца или слишком плохое качество его поверхности. При реализации способа измеряют углы Эйлера для каждого кристаллического зерна в образце при помощи металлографического метода ямок травления, рассчитывают угол θi (градусы) отклонения ориентации кристаллического зерна, объединяют площади Si (мм2) кристаллических зерен с поправочным коэффициентом X для элемента Si (X=0,1~10 Тл/градус), на основе магнитной индукции насыщения B0 (Тл) монокристаллического материала корректируют параметры θi, Si, X. Магнитную индукцию B8 текстурированной электротехнической стали определяют по формуле: 4 табл., 5 ил.
Изобретение относится к производству тектурированной Si стали, содержащей Сu
Изобретение относится к области металлургии, в частности к изготовлению ориентированной кремнистой стали с высокими электромагнитными свойствами

 


Наверх