Патенты автора Семенов Антон Валерьевич (RU)
Способ выявления контрафактных микросхем, бывших в употреблении на основе свойств деградации СОЗУ // 2757977
Изобретение относится к области тестирования электроники, в частности, определения времени эксплуатации статической оперативной памяти и выявления контрафакта. Сущность: производят подсчет нестабильных бит путем записи при номинальном напряжении питания (Vп=Vном) во все биты СОЗУ значение 1 или 0. Затем напряжение питания уменьшают до значения, выбранного из диапазона , которое гарантированно ниже критического уровня удержания микросхемой информации. После чего все биты СОЗУ последовательно вдоль линии слов переводят в режим чтения на период, достаточный для разрядки RC константы электрической схемы. Далее содержимое СОЗУ считывают и подсчитывают количество бит, изменивших свое значение (N). Микросхему СОЗУ с записанным во все ячейки значением 1 или 0 подвергают стрессовому воздействию путем воздействия повышенной температурой и напряжением (Vстресс) в течение периода времени Δt. Способ реализуют посредством комбинации подсчета нестабильных бит и по крайней мере двух итераций стрессового воздействия и подсчета нестабильных бит, при этом после первого подсчета нестабильных бит инициализируют начальное количество нестабильных бит N0=N, после второго подсчета нестабильных бит считают приращенное количество нестабильных бит относительно первого подсчета первой итерации стресса ΔN1=N-N0, после третьего подсчета нестабильных бит считают общее приращенное количество нестабильных бит относительно второго подсчета после ΔN2=N-N0, затем вычисляют истинность выражения истинность которого говорит о том, что микросхема СОЗУ «новая», а ложное значение - «использованная». Технический результат: выявление микросхем СОЗУ (статические оперативные запоминающие устройства), бывших в употреблении, простым цифровым оборудованием без применения точных аналоговых измерительных приборов, посредством штатного интерфейса микросхемы, без специальных требований к ее электрической и топологической схеме, без априорной первичной информации о свойствах ее физически неклонируемых функциях. 4 з.п. ф-лы, 3 ил.
Изобретение относится к области электронной техники. Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем основан на контроле электромагнитного сигнала, причем на один из выводов каждой микросхемы из партии в качестве входного воздействия подается электрический сигнал изменяющейся частоты в диапазоне от 1 ГГц до 10 ГГц, снимаются частотные характеристики выходного контрольного электромагнитного сигнала с другого вывода микросхемы и частотные характеристики отраженного сигнала от упомянутых использующихся входного и выходного выводов, полученные частотные характеристики для различных микросхем сравниваются между собой, и на основании этого контроля делается заключение об идентичности микросхем в партии. Изобретение позволяет произвести контроль идентичности изделий в партии однотипных микросхем с помощью низкоэнергетического воздействия за счет возникающих паразитных явлений в исследуемом изделии, вызванных изменением его структуры. 6 з.п. ф-лы, 4 ил.
СПОСОБ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ ПОДЛИННОСТИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ В РАЗЛИЧНЫХ РЕЖИМАХ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ // 2548621
Изобретение относится к области электронной техники, а именно к способу подтверждения подлинности изделий электронной техники (корпусированных приборов, блоков, модулей), которые содержат по меньшей мере один контакт или разъем для подачи входного сигнала, один контакт или разъем для снятия выходного сигнала, контакт или разъем для подачи питания на изделие и не менее одного контакта или разъема для управляющего сигнала. Сущность: способ характеризуется тем, что в качестве входного воздействия используется сигнал с частотой в диапазоне от ƒ1 до ƒ2, выбранный таким образом, что характерные резонансные частоты внутреннего объема корпуса
ƒ
i
~
c
L
i
, где с - скорость света, Li - характерные размеры (высота, ширина, глубина) корпуса исследуемого изделия меньше частоты ƒ2. Снимается спектр выходного сигнала, который сравнивается со спектром эталонного выходного сигнала, полученным при использовании образца с предварительно детально исследованной внутренней структурой из той же партии изделий в различных режимах работы изделия, которые задаются управляющим сигналом. Технический результат: подтверждение подлинности приборов без разрушения, уменьшение времени исследования. 11 з.п. ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к области электронной технике, а именно к способу, устройству и системе подтверждения подлинности изделий электронной техники (корпусированных приборов, блоков, модулей). Сущность: на разъем подают входной сигнал с частотой в диапазоне от f1 до f2, выбранный таким образом, что характерные резонансные частоты внутреннего объема корпуса
f
i
∼
c
L
i
, где с - скорость света, Li -
характерные размеры - высота, ширина, глубина корпуса исследуемого изделия, меньше частоты f2. Снимаются электрические характеристики выходного сигнала, которые сравнивается с аналогичными характеристиками эталонного сигнала, полученными при использовании образца из той же партии изделий с предварительно детально исследованной внутренней структурой, выбранного в качестве эталонного образца. Технический результат: подтверждение подлинности партии приборов без разрушения, снижение времени исследования. 4 з.п. ф-лы, 6 ил.
Изобретение относится к средствам хранения конфиденциальных данных, записанных в области энергонезависимой памяти. Технический результат заключается в повышении защищенности данных. Устройство состоит из двух областей энергонезависимой памяти - открытой и скрытой, причем области памяти физически отделены одна от другой. Для доступа к скрытой памяти необходимо воздействие на детектор, известное ограниченному кругу лиц. Доступ к памяти осуществляется через последовательный интерфейс и исключает одновременный доступ к открытой и скрытой области памяти, что затрудняет выявление наличия скрытой области памяти и доступ к данным, которые в нее записаны. 4 з.п. ф-лы, 2 ил.
Изобретение относится к области микроэлектроники, а именно к изделиям электронной техники, например микросхемам, содержащим конфиденциальные сведения, записанные в области памяти, которые необходимо защитить от незаконного считывания
