Патенты автора Ламзин Владимир Александрович (RU)
Изобретение относится к технике измерения тепловых характеристик и тепловых параметров цифровых интегральных микросхем (ЦИМС) и может быть использовано для контроля качества ЦИМС малой и средней степени интеграции на выходном или выходном контроле. Сущность: подают на контролируемую микросхему напряжение питания Епит, нагревают микросхему путем подачи на входы ее логических элементов высокочастотных переключающих импульсов, измерят в процессе разогрева микросхемы в заданные моменты времени мгновенную потребляемую мощность и температурочувствительный параметр с известным температурным коэффициентом КU. До подачи высокочастотных переключающих импульсов все логические элементы контролируемой микросхемы устанавливают в состояние логической единицы на выходе и за короткий интервал времени τизм измеряют сумму U1(0) напряжений логической единицы на выходе всех логических элементов и ток потребления Iпот(t0) до разогрева. Затем на входы всех логических элементов подают высокочастотные переключающие импульсы. В заданные моменты времени tk подачу высокочастотных переключающих импульсов прекращают, все логические элементы контролируемой микросхемы на короткий интервал времени τизм устанавливают в состояние логической единицы на выходе. За время τизм измеряют сумму напряжений U1(tk) логической единицы на выходе всех логических элементов и ток Iпот (tk) потребления микросхемы. Определяют значение переходной тепловой характеристики в заданный момент времени по формуле
где - средний ток потребления микросхемы с момента времени t0 до момента времени tk. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем с КМОП логическими элементами и оценки их температурных запасов. Технический результат: уменьшение погрешности измерения за счет исключения влияния электрической составляющей по цепи питания контролируемой микросхемы. Сущность: один или несколько логических элементов контролируемой микросхемы разогревают путем подачи на их входы переключающих импульсов высокой частоты FВЧ. На вход логического элемента, выбранного в качестве датчика температуры и не имеющего функциональной связи с греющими логическими элементами, подают прямоугольные переключающие импульсы, частота следования FТЧП которых меньше частоты переключения FВЧ греющих логических элементов. Импульсы с выхода логического элемента, выбранного в качестве датчика температуры, подают на вход вольтметра постоянного напряжения через последовательно соединенные два внешних по отношению к контролируемой микросхеме КМОП инвертора. Измеряют до и после нагрева среднее значение импульсного напряжения и греющую мощность и определяют их приращения. Среднее значение импульсного напряжения используют в качестве температурочувствительного параметра. Определяют тепловое сопротивление как отношение приращения среднего значения импульсного напряжения к приращению греющей мощности и известному температурному коэффициенту среднего значения импульсного напряжения. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе КМОП логических элементов (ЛЭ)
