Патенты автора Голубинский Анатолий Григорьевич (RU)

Группа изобретений относится к технике оптической регистрации, а именно к технике лазерного зондирования и фотоэлектрической регистрации обратно отраженного излучения, преимущественно быстропротекающих процессов, и позволяет определять массовые характеристики движущихся объектов. Устройство для реализации способа определения характеристик движущихся объектов содержит по меньшей мере один источник лазерного излучения и последовательно расположенные по ходу распространения лазерного излучения по меньшей мере один коллиматор, контактный экран известной массы и исследуемый объект, причем контактный экран установлен с возможностью перемещения его в сторону коллиматора из-за взаимодействия с налетающим на него исследуемым объектом. И кроме того, содержит один аппаратно-программный комплекс определения скорости движущегося исследуемого объекта по частоте доплеровского сдвига в обратно отраженном излучении, в котором контактный экран выполнен из прозрачного материала, пропускающего через себя часть лазерного излучения в прямом и обратно отраженном от исследуемого объекта направлениях, аппаратно-программный комплекс выполнен на основе оптогетеродинного определения скорости движущегося объекта по частоте доплеровского сдвига в обратно отраженном излучении, удельная масса контактного экрана выбрана в диапазоне 1÷100 раз больше удельной массы исследуемого объекта, а расстояние между коллиматором и контактным экраном выбрано больше или равно длине продольного размера исследуемого объекта. Технический результат - повышение достоверности результатов измерений. 2 н. и 12 з.п. ф-лы, 10 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества световодов с непрозрачной защитной оболочкой и одним недоступным торцом ввода-вывода излучения

Изобретение относится к технике оптической регистрации, а именно к технике фотоэлектрической регистрации изменяющихся во времени, преимущественно быстропротекающих процессов, и позволяет измерять интервалы времени в исследуемых процессах

 


Наверх