Патенты автора Карелин Андрей Юрьевич (RU)
Изобретение относится к способам проведения испытаний оптико-электронных приборов (ОЭП), в частности звездных датчиков, на помехозащищенность от бокового излучения. Согласно способу ОЭП устанавливают на поворотное устройство внутри вакуумной камеры так, что угол между осью пучка от имитатора солнечного излучения и осью бленды ОЭП равен заданному углу засветки бленды, ограничивают поток от имитатора диафрагмой, располагая ее перед входным защитным стеклом вакуумной камеры, создают в камере вакуум, засвечивают плоскость входного зрачка бленды излучением имитатора, получают распределение освещенности на поверхности фоточувствительного элемента (ФЧЭ) ФПУ ОЭП, проводят экспозицию фонового излучения, в результате которой происходит накопление в ФЧЭ электрических сигналов, пропорциональных распределению освещенности фонового сигнала, получаемого при засвечивании входного зрачка бленды излучением имитатора, запоминают сигналы, накопленные в ФЧЭ и используют их для оценки влияния фоновых условий на работоспособность ОЭП. При этом после первой экспозиции проводят повторную экспозицию фонового сигнала, перед которой снаружи на защитном стекле размещают накладку, выполненную из оптически непрозрачного материала в виде черного эллипса (ЧЭ), обеспечивающую перекрытие потока имитатора, попадающего во входной зрачок бленды, запоминают электрические сигналы на выходе ФЧЭ ФПУ ОЭП, соответствующие фоновому сигналу повторной экспозиции, производят поэлементное вычитание из запомненных сигналов первой экспозиции сигналов второй экспозиции, запоминают полученные разностные сигналы и по ним определяют распределение фоновых сигналов в условиях штатной эксплуатации для указанных условий засветки, и используют их для оценки влияния фоновых условий на работоспособность ОЭП. Технический результат заключается в воспроизведении на ФЧП ФПУ фонового распределения при боковой засветке солнечным излучением за счет компенсации влияния паразитных фоновых засветок от элементов конструкции вакуумной камеры на распределение фонового излучения. 15 ил.
Способ контроля качества объективов // 2662492
Изобретение может быть использовано при контроле и аттестации оптической продукции, имеющей высокое качество изображения. Способ включает подсветку световым потоком тест-объекта в виде точечной диафрагмы, коллимирование светового потока, его фокусировку исследуемым объективом звездного датчика (ЗД) на фоточувствительную поверхность (ФЧП) технологического многоэлементного ФП (МФП), размер элемента которого меньше и кратен размеру фоточувствительного элемента (ФЧЭ) штатного МФП, входящего в состав ЗД, построение по электрическим сигналам функции распределения энергии в виде функции рассеяния точки (ФРТ) и преобразование ФРТ технологического МФП в ФРТ штатного МФП ЗД. Качество исследуемого объектива оценивают сравнением соответствия ФРТ штатного МФП ЗД расчетным критериям оптимальности исследуемого объектива ЗД, и по соответствию критериям оптимальности делают вывод о качестве объектива, а при несоответствии критериям оптимальности проводят расфокусировку исследуемого объектива для получения нового распределения ФРТ на технологическом МФП и повторяют вышеуказанную последовательность операций. Технический результат - повышение точности контроля качества объективов с возможностью доведения их до установленных оптимальных критериев. 10 ил., 1 табл.
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается способа плавного ослабления светового потока при имитации фоновой засветки без искажения спектра фонового излучения. Способ заключается в том, что световым потоком от источника засветки освещают совокупность диафрагм, расположенных по окружности на зачерненной пластине. Прошедший через каждую диафрагму световой поток падает на боковую цилиндрическую поверхность тубуса и, отразившись от нее, освещает выходной торец тубуса, где помещают фоточувствительную поверхность фотоприемника. Перед попаданием светового потока на боковую цилиндрическую поверхность тубуса его ослабляют, перекрывая часть площади каждой диафрагмы первой совокупности диафрагм соответствующими им диафрагмами из второй совокупности диафрагм, размещенных на второй зачерненной пластине, установленной за первой по ходу светового потока соосно с ней и с возможностью поворота вокруг их общей оси. Измерение параметров фотоприемника производят при ослабленном световом потоке, исходя из условия, что созданный засветкой электрический ток близок к 50% сигнала насыщения фотоприемника. Технический результат заключается в обеспечении возможности плавной регулировки освещенности в широком диапазоне и повышении точности измерений. 2 н.п. ф-лы, 4 ил.
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИМИТАЦИИ ФОНОВОЙ ЗАСВЕТКИ БЕЗ ИСКАЖЕНИЯ СПЕКТРА ФОНОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ // 2470262
Изобретение относится к оптике, а именно к устройствам создания фоновой засветки без искажения спектра фонового излучения, в основном для проверки фоточувствительной поверхности фотоприемника
УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ ПРИБОР // 2469266
Изобретение относится к оптико-электронным системам и может быть использовано в углоизмерительных приборах, предпочтительно в звездных приборах ориентации космических аппаратов
