Патенты автора Ким Марина Анатольевна (RU)
Изобретение относится к области медицины, а именно к педиатрии, детским инфекционным болезням, и предназначено для диагностики формы тяжести вызванного вирусом Эпштейна-Барр (ВЭБ) и бактериями инфекционного мононуклеоза у детей. Выполняют обследование детей, больных инфекционным мононуклеозом, вызванным ВЭБ и бактериями, при котором определяют наличие или отсутствие сплошного налета на небных миндалинах ребенка. Исследуют его слюну, в которой определяют концентрацию IFN-γ, пг/мл. При наличии сплошного налета и IFN-γ<7,5 пг/мл или при отсутствии сплошного налета и значении IFN-γ<3,0 пг/мл диагностируют тяжелую форму инфекционного мононуклеоза, вызванного ВЭБ и бактериями. При наличии сплошного налета и IFN-γ≥7,5 пг/мл или при отсутствии сплошного налета и IFN-γ≥3,0 пг/мл диагностируют среднетяжелую форму инфекционного мононуклеоза, вызванного ВЭБ и бактериями. Использование изобретения позволяет исключить инвазивность и сократить время диагностики, а также обеспечивает возможность диагностировать формы тяжести инфекционного мононуклеоза, вызванного ВЭБ и бактериями. 6 пр.
Изобретение относится к области медицины, а именно к детским инфекционным болезням, и может быть использовано для диагностики формы тяжести вызванного вирусом Эпштейна-Барр острого инфекционного мононуклеоза у детей
