Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в отраслях машино-, приборостроения, электронной промышленности, связанных с контролем шероховатости механически обработанных поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в отраслях машино- |И приборостроения , связанных с контролем шероховатости полированных поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля неосесимметричности в распределении зонной чувствительности светочувствительных слоев фотоприемников