Изобретение относится к оптоэлектронике и может быть использовано в системах оптической обработки информации при дешифрировании аэрофотоснимков для визуального анализа рентгеновских снимков, а также для выявления дефектной структуры полупроводниковых материалов на ранней стадии изготовления оптоэлектронных приборов