Патенты автора ШЕЛЕСТ ДМИТРИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ

Устройство для сортировки деталей // 1801621

Устройство для контроля дефектов фотошаблона // 1698712

Изобретение относится к контролю и исследованию физических свойств материалов с помощью оптических методов

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1684597

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта // 1645978

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике, в частности к устройствам для измерения характеристики объекта анализа его изобгажения, и может быть использовано для определения углов разворота широкого класса объектов

Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта // 1628071

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта

Устройство для контроля плоских однородных поверхностей // 1619311

Изобретение относится к области контроля характеристик изображения объекта путем анализа его изображения

Устройство для определения угла разворота изображения объекта // 1501108

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1499195

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1460610

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта // 1410074

Изобретение относится к автоматике , в частности к устройствам для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура.изображений объекта, и может быть использовано для измерения характеристик I объекта путем анализа его изображения

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1381731

Изобретение относится к технике ТВ и повышает точность путем обеспечения инвариантности к смещению планарной структуры в поле зрения ТВ- датчика (ТВД)

Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры // 1339593

Изобретение относится к аналоговой вычислительной технике

Устройство для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта // 1302305

Изобретение относится к автоматике , в частности к устройству для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта , и может быть использовано для измерения характеристик объекта путем анализа его изображения

Устройство для выделения информативных элементов контура изображения // 1297086

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для выделения информативных участков в контурах изображений

Устройство для контроля дефектов фотошаблона // 1233107

Изобретение относится к исследованиям и анализу физических свойств материалов с помощью оптических методов , а именно путем исследования цвета или поглощения световых лучей при помощи электрических средств обнар океиия локальных дефектов, Цель изобретения - новышение достоверности контроля дефектов фотошаблона, которая достигается введением новых блоков и функциональных связей, позволяющих автоматически контролировать форму плапарных структур