Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, конкретно к переносным диагностическим комплексам для контроля параметров, диагностики и поиска мест локализации неисправностей в радиоэлектронных изделиях (РЭИ) с цифровым, аналоговым или цифроаналоговым выходами.