Патенты принадлежащие ФГОУ ВПО "Морская государственная академия имени адмирала Ф.Ф. Ушакова" (RU)

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может использоваться для физико-химического анализа и при контроле чистоты кристаллических и электроизоляционных материалов как при изготовлении, так и в процессе их эксплуатации, что особенно важно для кристаллов, используемых в оптоэлектронике и лазерных технологиях.

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля состояния материала. .

Изобретение относится к неразрушающим способам определения механизма электрической проводимости, в частности на атомарном уровне, и может быть использовано при разработке новых изоляционных материалов с заданной протонной проводимостью, а также кристаллов, используемых в оптоэлектронике и лазерной технике.

Изобретение относится к неразрушающим методам определения физико-технических характеристик материалов, подвергающихся в процессе работы воздействию ультразвуковых вибраций, сильных электрических полей, облучению различными видами электромагнитных излучений.

Изобретение относится к неразрушающим методам определения состояния материала при низких температурах и может быть использовано для определения механизма диэлектрической релаксации и электрической проводимости материалов, особенно при низких температурах.
Наверх