Патенты принадлежащие Учреждение Российской академии наук Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН) (RU)

Изобретение относится к области оптической микроскопии и оптической микроманипуляции. .

Изобретение относится к области лазерной оптики, а именно к острой фокусировке когерентного излучения, и может быть использовано для высокоразрешающей оптической записи и сканирующей оптической микроскопии.

Изобретение относится к планарным волноводам. .

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля механических деформаций конструкций летательных аппаратов, сооружений в различных областях промышленности, особенно в тех случаях, когда необходимо знать не только модуль величины деформации, но и ее направление в пространстве.

Изобретение относится к измерительной технике в области микроэлектроники и предназначено для измерения чистоты поверхности подложек. .
Наверх