Патенты принадлежащие Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) (RU)
Изобретение относится к импульсной технике, а именно к импульсным генераторам на триггерах Шмитта, и может быть использовано при тестировании систем, приборов, датчиков и других объектов в устройствах связи, измерительной техники и автоматики, а также в виде отдельных узлов при построении самонастраивающихся систем управления, в биофизических преобразователях информации, выполненных на базе кремниевых чипов и других схем.
Изобретение относится к области технологии сварки и служит для снятия остаточных напряжений, возникающих в сварных соединениях в процессе автоматической сварки. .
Изобретение относится к области абсорбционной спектроскопии и может быть использовано для компонентного анализа природного газа и газовых смесей на его основе в реальном масштабе времени. .
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, в частности к определению микроследов опасных веществ - взрывчатых веществ, наркотиков, токсичных веществ и т.п. .
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ И АНАЛИЗА ИОНОВ АНАЛИТА // 2434225
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, к спектрометрии обнаружения паров органических веществ в составе воздуха, а также к области газового анализа для определения микроследов опасных веществ - взрывчатых веществ, наркотиков, токсичных веществ и т.п.
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК НА ОСНОВЕ EuS // 2428505
Изобретение относится к области полупроводниковой нанотехнологии, в частности к области получения тонкопленочных слоев магнитных полупроводников, и может быть использовано при получении интегральных схем.
Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано в вычислительных системах для преобразования двоичных кодов в коды системы остаточных классов (СОК). .
Изобретение относится к импульсной технике, а именно к широтно-импульсным преобразователям (ШИП) на основе триггеров Шмитта, и может быть использовано при проектировании стабильных импульсных источников питания, в проводах ШИМ двигателей постоянного тока, во времяимпульсных вычислительных системах и других устройствах измерительной техники и автоматики.
Изобретение относится к ядерной физике, а точнее, к способам получения изображений различных объектов с использованием мюонов космических лучей и предназначено для мониторинга состояния и процессов в окружающей среде.
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ И АНАЛИЗА ИОНОВ АНАЛИТА // 2399906
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, к спектрометрии обнаружения паров органических веществ в составе воздуха, а также к области газового анализа для определения микроследов опасных веществ - взрывчатых веществ, наркотиков, токсичных веществ и т.п.
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, в частности к определению микроследов опасных веществ - взрывчатых веществ, наркотиков, токсичных веществ и т.п. .
Изобретение относится к области микроэлектроники. .
Изобретение относится к области микроэлектроники, а именно к технологии изготовления КМОП-транзисторов, в частности к способам управления напряжением срабатывания полевого КМОП транзистора. .
