Патенты принадлежащие Закрытое акционерное общество научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" (ЗАО НИИИН МНПО "Спектр") (RU)

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и неразрушающего контроля, а именно к методам измерения толщины, определения текстурной анизотропии и напряженно-деформированного состояния конструкций и проката из черных и цветных металлов и сплавов в широком диапазоне толщин при одностороннем доступе, дефектоскопии и структуроскопии различных материалов и изделий, и предназначено для применения в металлургии, машиностроении, в авиастроении, автомобилестроении и других отраслях промышленности.

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к контролю и анализу ферромагнитных материалов по магнитным показателям, и может быть использовано при оценке механического напряжения узкопрофильных изделий типа железнодорожных рельсов в динамике.
Наверх