Патенты принадлежащие Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") (RU)
Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к оптико-электронным приборам для обнаружения источников излучения, и может быть использовано для создания систем, работающих в различных спектральных диапазонах.
Изобретение относится к инфракрасным оптическим системам и может быть использовано в тепловизорах. .
Изобретение относится к технике спектрального анализа и может найти применение при эмиссионных и атомно-абсорбционных измерениях в спектроанализаторах с дифракционными решетками и многоэлементными фотоприемниками.
Изобретение относится к оптико-механическим системам обзора и может быть использовано в технике активной и пассивной локации пространства. .
Изобретение относится к области технической физики, в частности к фотометрии и спектрофотометрии, и может быть использовано для измерения абсолютных значений коэффициентов отражения зеркал, особенно зеркал, обладающих высоким коэффициентом отражения.
Изобретение относится к ИК оптическим системам и может быть использовано в тепловизорах. .
Изобретение относится к фотометрии и спектрофотометрии и может быть использовано для определения коэффициента пропускания объективов и линз относительным методом преимущественно в инфракрасной области спектра.
Изобретение относится к фотометрии и спектрофотометрии и предназначено для измерения абсолютного значения коэффициента отражения зеркал со сферической или параболической формой поверхности. .
Изобретение относится к фотометрии и спектрофотометрии и может быть использовано для определения коэффициента пропускания объективов и линз преимущественно в инфракрасной области спектра. .