FindPatent.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты принадлежащие Жданов Глеб Сергеевич (RU)
СПОСОБ ТОМОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦА В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
// 2453946
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии и может быть использовано для неразрушающего послойного тестирования образцов, в частности изделий микро- и наноэлектроники. .
Подписаться на новые патенты этого владельца
Отправить сообщение владельцу патента
Я этот человек или организация