Патенты принадлежащие ООО "Лапик" (RU)
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП // 2461839
Изобретение относится к электронно-измерительной технике и нанотехнологиям и предназначено в том числе для использования со сканирующим зондовым микроскопом (СЗМ) при исследовании микро- и нанорельефа поверхности.
