Патенты принадлежащие Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский институт микроэлектроники и информационно-измерительной техники" (RU)
Изобретение относится к исследованию материалов с помощью тепловых средств, а именно к идентификации промежуточных фаз в монокристаллах силикатов. .
