Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения потенциально ненадежных элементов в еще работоспособном цифровом блоке. Техническим результатом является повышение эффективности технического диагностирования по определению потенциально ненадежных элементов в цифровых блоках.