Изобретение относится к области атомно-эмиссионного спектрального анализа и касается способа определения содержания элементов и форм их присутствия в дисперсной пробе и ее гранулометрического состава. Способ включает в себя ввод пробы в факел плазмы, регистрацию последовательности атомно-эмиссионных спектров во время поступления пробы в плазму и вычисление интенсивностей аналитических спектральных линий с учетом фона под линиями всех искомых элементов в зависимости от времени поступления пробы в факел плазмы.